表面分析 受託分析 表面分析（分析装置、分析の種類、サンプル取扱い注意点など）のご紹介です。クリックするとPDFファイルが開きます（230KB） このページの項目 AFM（原子間力顕微鏡） SEM/EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度 TOF-SIMS の事例 「Li の分析」 TOF-SIMSの事例 広域イメージマップ TOF-SIMS分析 XPS(ESCA)によるポリマー表面分析(PA PI) XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析 XPSによるバンドギャップの簡易測定 XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 オージェ電子分光法による金めっき変色部の分析 ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例 不織布シートの細孔分布評価 光学顕微鏡とSEMの使い分け 有機物のTOF-SIMS分析 表面分析ガイド 超微小硬度計による材料評価 オージェ電子分光法による接合部分析 微量汚染物のTOF-SIMS分析 TOF-SIMSによる界面活性剤残渣の分析 X線光電子分光分析器による化学状態分析
