評価用めっき付きシリコンウエハ
試作・評価を支える高品質めっきウエハ
研究開発・試作・プロセス評価向けに、各種めっき付きシリコンウエハを提供しています。
Cu（銅）めっき、Ni（ニッケル）めっき、Au（金）めっきなど、多様な仕様に対応可能です。
試作1枚から量産まで柔軟に対応します。
特徴
・2インチ～12インチシリコンウェハ
・電解めっき・無電解めっき
・下地膜、シード層から一括対応
・シリコン以外の材料も応相談
・パターン付きウェハ持ち込み応相談
《代表的な用途》
・半導体・MEMS評価
・実装・接合評価
・放熱・電極形成評価
その他
膜厚指定、サイズ変更、特殊仕様にも柔軟に対応可能です。
技術相談も可能です。試作1枚から対応いたします。
お問い合わせフォームまたはメールにてお気軽にご相談ください。