- SAM、SAT
- 半導体
非破壊検査・超音波顕微鏡観察の動画
超音波を利用した超音波顕微鏡での観察により、半導体パッケージ、電子部品及び材料などの内部の構造や界面剥離、ボイド、クラックを観察することが出来ます。
非破壊での観察を行う場合には有効な試験です。
観察動作(動画)
- 観察試料は水中に設置して観察します
- 下の画像をクリックすると試験動作を動画で見ることができます
観察結果
- 半導体パッケージ剥離部の観察像及び超音波反射波形
観察像

超音波反射波形

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