• ESD・ラッチアップ
  • FT-IR
  • HAST、PCT
  • In-Situ
  • X線／CT
  • ﾃﾞｼﾞﾀﾙﾏｲｸﾛｽｺｰﾌﾟ
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  • 恒温恒湿（THB）
  • 熱衝撃（TC）
  • 半導体
  • 電子部品

真贋調査（比較観察）

正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査します。　(外観観察/開封観察/電気的特性測定/破壊・非破壊観察/信頼性試験/材料調査など。)

外観観察　 目視観察、マイクロスコープを使用した観察を行い、形状や表面状態を確認します。
X線観察 X線装置を用いて内部構造を比較観察します。
電気的測定　　　　　　 　　　 データシートの項目中から 実施可能な 電気的特性測定を実施します。
開封観察
信頼性試験 　　　　　　　　 　　　 データシートに基き、恒温恒湿試験、 恒温試験、温度サイクル試験等の環境 試験（保存/動作）を実施します。
材料調査 各種材料分析にて部材の調査を行います。
  • 正規品又は標準品をご準備ください。
  • 実施項目、納期、費用等のご相談は下記お問い合わせよりお問い合わせください。
  • なお、最終的な部品ご使用のご判断はご依頼者様でお願いいたします。
お問い合わせはこちらから 株式会社アイテス　品質技術部 TEL:077-599-5020 メールでのお問い合わせはこちらから